1             

谱学分析

红外光谱

Bruker Tensor 27

显微红外光谱

Nicolet iN10

紫外可见近红外吸收光谱

SHIMADZU SolidSpec-3700

紫外可见光谱

标旗Gem3000

显微共焦拉曼光谱

Renishaw inVia Qontor

X射线光电子能谱

SHIMADZU AXIS SUPRA+

光致发光光谱

天瑞 PL-405

2             

成分测试

X射线荧光光谱

SHIMADZU EDX-8100

电感耦合等离子体发射光谱

SPECTRO SPECTROBLUE FMX36

激光剥蚀电感耦合等离子体质谱

NWR213 laser， PerkinElmer 1000G ICP-MS

激光诱导击穿光谱

AtomTrace SCI-Trace， 266 nm laser

限固体、粉末样品

3             

结构与物相分析

X射线粉末衍射

Bruker， D8 ADVANCE

深紫外发光图像

DiamondView

偏光显微镜

ZEISS Axio Scope 5 Pol

4             

形貌分析

原子力显微镜

BRUKER Dimension Icon

场发射扫描电子显微镜

Thermo Apreo 2S LoVac

超景深三维显微镜

Keyence EHX-7000

激光共聚焦显微镜

OLYMPUS OLS5000

5             

力学测试

显微维氏硬度计

Wilson VH1202

涂层表面特性测试系统（纳米压痕）

Anton Paar Step700

多功能摩擦磨损试验机

Rtec MFT-5000

万能材料试验系统

INSTRON 68TM-5

6             

粒度分析

激光粒度分析

Malvern Panalytical mastersizer3000

7             

其他测试项目

椭偏仪

HORIBA Smart SE

8             

辅助制样

三离子束切割仪

Leica EM T1C 3X

球磨机

用于XRD等测试样品制备