1. 场发射扫描电镜和透射电镜的相似点和区别？

答：二者对样品制备的共同要求：固体，尽量干燥，尽量没有油污染，外形尺寸符合样品室大小要求。

   区别是：TEM电子的穿透能力很弱，透射电镜往往使用几百千伏的高能量电子束，但依然需要把样品磨制或者离子减薄或者超薄切片到微纳米量级厚度，这是最基本要求。成像上，SEM的成像时电子束不穿透样品而是扫描样品表面，TEM成像时电子束穿透样品，SEM的空间分辨率一般在XY-6nm，TEM空间分辨率一般可以达到0.1-0.5nm。

2. 磁性样品会对场发射电镜的危害体现在哪里？

答：电子枪发射出的电子，一般都是由磁场汇聚，当样品含有磁性的时候很容易磁化电镜的”心脏”部件-极靴，同时容易吸附到极靴表面或光学通道上，因此磁性样品的测试可能会给电镜带来损害，承接磁性样品的单位也需要去承担相应的风险。

3. 我的样品磁铁吸不上来，怎么就被判断为属于磁性样品了？

答：以奥氏体为例，一方面我们并不完全清楚您样品的加工工艺和组成，大多数人都认为不锈钢是没有磁性的，并借助磁铁来鉴别不锈钢，这种方法很不科学，在现实生活中，首先锌合金、铜合金一般都可以仿不锈钢的外观颜色，也没有磁性，容易误认为是不锈钢，而即使是我们目前最常使用的 304 钢种，在经过冷加工后，也会出现不同程度的磁性。所以不能只凭一块磁铁来判断不锈钢的真伪。另一方面，即便有些样品对外表现为无磁，但当本身含有磁性元素时候，在进入磁场以后获得充磁，也会表现出一定的磁性，对仪器造成损伤。

   因此，保险起见，含有磁性元素的样品，我们的原则是接收中等偏下较弱磁性的块体样品的检测。磁性粉末样品不能测试。